Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
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Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。


参数查看,快速清晰。

推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%,从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外,嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导,并让您对最终结果充满信息。

特点

  • 用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件

  • 立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试

  • 自动实时参数提取、数据绘图、分析函数


准确的 C-V 表征

使用吉时利最新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业领先的 CVU 架构中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。

特点

  • 同类产品中首款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表

  • 1 kHz 频率,分辨率从1 kHz 到 10 MHz

  • 测量电容、电导和导纳

  • 使用 4200A-CVIV 多路开关最多可测量四个通道


测量、 切换、 重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

  • 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

  • 用户可配置低电流功能

  • 个性化输出通道名称

  • 查看实时测试状态


稳定的低电流测量,适用于 I-V 检定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择,可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,Keithley 可确保您获得最准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。

特点

  • 不必将仪器送回工厂即可增加 SMU

  • 进行 飞安测量

  • 多达 9 个 SMU 通道

  • 针对长电缆或大卡盘进行了优化


带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

  • “点击”测试定序

  • “手动”探测器模式测试探测器功能

  • 假探测器模式无需移除命令即可实现调试

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